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ISBN: 978-3-95900-200-4
die notwendig sind
Anlauffähigkeit von Montagesystemen
sondern die inhomogenen Spannungs- und Temperaturzustände im Schmiedeteil berücksichtigt
: IFUM 06/2015
978-3-95900-033-8 Keramik ISBN: 978-3-95900-200-4Ein neues Modell zur dreidimensionalen Rekonstruktion von Messdaten eines Rasterelektronenmikroskops Autor*in: Renke Harm Scheuer ISBN: 978 3 95900 033 8 Dissertation, Leibniz Universitt Hannover, 2015 Herausgeber*in der Reihe: Eduard Reithmeier Band Nr.: imr 01 2015 Umfang: 204 Seiten, 124 Abbildungen Schlagworte: Rasterelektronenmikroskop, photometrische Methode, Verhltnis Sekundrkoeffizient Rckstreukoeffizient Kurzfassung: Diese Arbeit beschftigt
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